產品特點：微電泳儀（zeta電位儀）JS94系列可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。可廣泛應用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細材料、環(huán)境保護、海洋化學等

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JS94系列微電泳儀（zeta電位儀）的詳細資料：

微電泳儀（zeta電位儀）JS94系列介紹

微電泳儀（Zeta電位儀）JS94系列可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定顆粒的Zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。可廣泛應用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細材料、環(huán)境保護、海洋化學等行業(yè)，也是化學、化工、醫(yī)學、建材等專業(yè)的重要教學儀器之一。

首部《膠體顆粒zeta電位分析電泳法通則》國家標準發(fā)布，標準號：GB/T 32668-2016，該國家標準于2016年11月1日起實施。

型號	適用體系	主要粒徑范圍（微米）	顯微光學系統(tǒng)	分辨率
JS94H	水性體系	0.5~20	高倍顯微光學系統(tǒng)	4pixel/μm
JS94H2	水性體系和有機體系	0.5~20	高倍顯微光學系統(tǒng)	4pixel/μm
JS94J	水性體系	0.1~10	日本W(wǎng)KD 高倍顯微光學系統(tǒng)	12pixel/μm
JS94J2	水性體系和有機體系	0.1~10	日本W(wǎng)KD 高倍顯微光學系統(tǒng)	12pixel/μm
JS94K	水性體系	0.2~50	日本連續(xù)變倍光學系統(tǒng)，適用于更寬范圍顆粒的測量	8pixel/μm
JS94K2	水性體系和有機體系	0.2~50	日本連續(xù)變倍光學系統(tǒng)，適用于更寬范圍顆粒的測量	8pixel/μm

JS94系列微電泳儀（Zeta電位儀）共性參數(shù)

1、功耗：<150W

2、電源輸入電壓：220V 50Hz

3、適用環(huán)境：防震平臺

4、適用溫度范圍：室溫到35℃，讀取精度0.1

5、測數(shù)準確度：系統(tǒng)誤差在5%以內

6、pH范圍：一般應用在下2.0～12.0，亦可在1.6～13.0范圍內使用

7、工作距離7mm

8、杯型開放式電泳裝置，配套特制電極支架

JS94系列微電泳儀（Zeta電位儀）功能特點

1. 儀器采用新設計的新型簡便的電泳池，采用0.5cm 厚的玻璃杯，電極內置在池內。電泳杯與內置電極經(jīng)精密的微流場計算、表面處理，組成一套與傳統(tǒng)的電泳池*不一樣電泳裝置。測試時樣品用量極少，每次僅 0.5ml，易于清洗，使用方便，經(jīng)濟實用。

2. 采用經(jīng)過精心設計的電極支架，與電泳杯緊密配合，形成一個杯形開放式電泳裝置，電極采用銀、鉑和鈦金屬絲制成，經(jīng)表面處理后工作狀態(tài)穩(wěn)定。

3. 制作精良的十字標，置入電泳杯后放在三維平臺上，調整三維平臺，在計算機屏幕看到清晰的十字圖像，便找到測定位置，沒有靜止層問題。

4. 該電泳儀采用半導體發(fā)光近場光學系統(tǒng)，功率僅幾十微瓦，不會因發(fā)熱而影響測量環(huán)境和測量精度，并調整了光學系統(tǒng) ，加大了放大倍率，采用波長較短的藍光和綠光，因此可以看清更小的顆粒。

5. 采用恒壓低頻轉換電源, 可以防止極化，同時又可大大提高測量速度。正負換向時間為0.30秒至1.20秒連續(xù)可調，采樣時間僅需 3～10秒。電極間電壓可根據(jù)需要調節(jié)。

6. 采用溫度采樣探頭, 自動連續(xù)對環(huán)境溫度進行采樣, 返回計算機，自動調整參數(shù)，用于計算Zeta電位。采用計算機多媒體技術, 在給定的節(jié)拍下, 自動對經(jīng)放大1200倍的超細顆粒連續(xù)“拍照”，提供雙向共四幅灰度圖像進行分析計算。

視頻法測量zeta電位和激光衍射法測量zeta電位的優(yōu)缺點

如果需要比較視頻法測量zeta電位和激光衍射法測量zeta電位的優(yōu)缺點，參見表2及《精確和準確——關于zeta電位兩種測量方法的討論》。

國內外微電泳儀（zeta電位儀）對比表（表2）
Zeta 電位	JS94系列	進口（一般為激光衍射法）
測量方法	采用視頻測量技術，全部分析過程均是“所見即所得”，所以數(shù)據(jù)一定是準確的，想做錯都難，是實測值。	一般采用激光衍射測量技術，“在ISO13320標準中，特別提出如果顆粒粒徑小于幾十微米，需采用米氏理論，輸入正確的樣品折射率和吸收率以便能獲得更為準確的結果”。由此可見該類儀器測量的zeta電位是需要在正確的折射率和吸收率等參數(shù)支持下才能得出的計算值。
測量對象	是測量zeta電位準確的儀器，沒有之一。但受其測量方法限制，只能逐個觀察帶電顆粒形狀和粒徑，無法生成整個分散體系的粒徑分布直方圖。	是測量整個分散體系中粒徑分布直方圖的儀器，但其附帶的測量zeta電位功能只具有參考意義。
適用范圍	由于無需測量整個體系的粒徑分布，只需截取部分部分不沉降的帶電顆粒來表征整個分散體系中帶電顆粒的zeta電位，因此被測樣品只需有部分帶電顆粒的粒徑在0.1~50微米之間即可。	“當顆粒小到幾百納米時，其衍射光強對于角度幾乎*失去依賴性”。
樣品準備	樣品無需預處理，即便情況（比如濃稠不透光樣品）僅需稀釋即可。	不少樣品需要按照操作手冊做預處理，并事先測量該樣品正確的折射率和吸收率數(shù)據(jù)，輸入操作軟件以便得到zeta電位的計算值。

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